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          • X-RAY XUL-XYmfischer熒光鍍層分析儀x-ray

            X-RAY XUL-XYmfischer熒光鍍層分析儀x-ray

            fischer熒光鍍層分析儀x-ray X-RAY XUL-XYm全稱FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm,德國*,比同系列產品FISCHERSCOPE® X-RAY XUL多了手動可調節平臺。主要用于測量鍍層厚度,分析鍍層和溶液(電解液)的成分(成份)

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          • XULM XULM-XYmX射線熒光鍍層測厚儀

            XULM XULM-XYmX射線熒光鍍層測厚儀

            X射線熒光鍍層測厚儀又名x-ray光譜儀,x射線合金測厚儀,射線熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

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          • FISCHERSCOPE XDL210X-RAY鍍層測厚儀 射線分析儀

            FISCHERSCOPE XDL210X-RAY鍍層測厚儀 射線分析儀

            X-RAY鍍層測厚儀或稱射線分析儀,德國*,全稱為FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210,可以測量電鍍層例如:銅、鎳、鉻、鋅、錫、鈦、金、銀或者合金比如鋅鎳合金等等的鍍層厚度以及成份,還可以進行電解液(電鍍溶液)的測成份分析

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          • FISCHER德國菲希爾x射線測試儀

            FISCHER德國菲希爾x射線測試儀

            HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了的軟件和硬件技術,FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點

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